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菲希爾XDLM-pcb200 來自德國菲希爾Fischer的XDLM-PCB測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析的入門級、耐用型測量儀。用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的X射線熒光測量儀器。FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB儀器是專門用于測量和分析印刷電路板上的涂層厚度和成分的堅(jiān)固耐用的入門級儀器。

德國fischer膜厚儀 X射線熒光測厚儀 XULM特別適合測量細(xì)小的部件如連接器，觸點(diǎn)或線，也可以測量印刷線路板上的Au，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點(diǎn)為Ø0.25mm的準(zhǔn)直器測量，20秒的重復(fù)精度可達(dá)2.5nm。

DualScope MP0測厚儀- 菲希爾 DualScope MP0測厚儀，袖珍測厚儀中的產(chǎn)品，也是應(yīng)用Z廣泛，性價比較高的一款小型儀器，篤摯儀器為菲希爾正式授權(quán)的專業(yè)經(jīng)銷商，證書齊全，貨源穩(wěn)定，正規(guī)渠道拿貨

Fischer X-RAY XUV773 X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個可抽真空的大型測量箱。其所裝備的大面積硅漂移探測器能夠探測低至1 keV的熒光輻射能量，從而能夠有效地測量元素Na、Mg以及元素Zn、Cu、Ni的L輻射。

菲希爾X-RAY X射線熒光鍍層測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板上的鍍層。

Fischer XDAL237 X射線熒光測厚儀 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大，可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品。馬達(dá)驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置*高可達(dá)140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面